• Conseguiu detectar precocemente a causa de defeitos em matérias-primas por meio de IA, tornando-se "a primeira a superar esse desafio no setor"
• Aplicado a substratos de semicondutores de alto valor, analisando defeitos de matéria-prima em apenas um minuto
• Reduz o tempo de análise de defeitos em até 90%

SEOUL, Coreia do Sul, 7 de outubro de 2024 /PRNewswire/ -- Hoje, LG Innotek (CEO Moon Hyuksoo) anunciou o desenvolvimento e a aplicação do primeiro "sistema de inspeção baseado em Inteligência Artificial (IA) para matérias-primas recebidas" do setor, projetado para detectar defeitos no ponto de recebimento e evitar o uso de matérias-primas abaixo do padrão no processo.

A LG Innotek aplicou sua tecnologia de inspeção baseada em IA, desenvolvida pela combinação de informações de materiais e tecnologias de processamento de imagens de IA, ao processo RF-SiP (Radio Frequency System-in-Package). Recentemente, a tecnologia também foi introduzida para o FC-BGA (Flip Chip Ball Grid Array), e espera-se que aumente ainda mais a competitividade e a qualidade dos produtos de substrato semicondutor de alto valor da LG Innotek.

Anteriormente, as matérias-primas recebidas passavam apenas por uma inspeção visual antes de entrar no processo de produção. No entanto, o avanço contínuo da tecnologia de substrato semicondutor mudou isso. Mesmo depois de melhorar todas as causas de defeitos no processo, as falhas nas avaliações de confiabilidade continuaram a aumentar. Isso fez com que a qualidade dos materiais recebidos ganhasse atenção como um fator decisivo que afeta as avaliações de confiabilidade.

As principais matérias-primas (ou seja, Prepreg (PPG), Ajinomoto Build-up Film (ABF) e Copper-Clad Laminate (CCL)) que compõem os substratos de semicondutores chegam como uma mistura de fibras de vidro, compostos inorgânicos e outros componentes. No passado, os vazios de ar (espaços entre as partículas) ou as partículas estranhas geradas durante o processo de mistura de materiais não afetavam significativamente o desempenho do produto. Entretanto, como as especificações do substrato, como o espaçamento do circuito, tornaram-se cada vez mais rigorosas, a presença de vazios de ar e partículas estranhas, dependendo do tamanho, começou a causar defeitos.

Como resultado, é praticamente impossível identificar qual parte da matéria-prima é responsável pelo defeito usando os métodos tradicionais de inspeção visual, o que se tornou um desafio significativo para o setor.

Se compararmos um lote de mistura de matérias-primas (unidade de matérias-primas com as mesmas características que entra no processo de produção) a um lote de massa de biscoito, é impossível para o olho perceber a concentração de sal ou açúcar em uma determinada porção, o número de orifícios de ar na massa ou o número de partículas estranhas.

A LG Innotek encontrou uma maneira de superar esse desafio do setor com a IA. Seu "Sistema de inspeção baseado em IA para matérias-primas recebidas" foi treinado com dezenas de milhares de dados sobre a composição de materiais que são adequados ou inadequados para um produto. Com base nisso, ele analisa os componentes e as áreas defeituosas das matérias-primas de substratos de semicondutores em apenas um minuto, com uma taxa de precisão de mais de 90%, e visualiza os desvios de qualidade em cada lote de matérias-primas.

Ao usar o aprendizado de máquina com IA para visualizar, quantificar e padronizar as configurações de material otimizadas para a qualidade, a LG Innotek conseguiu evitar que matérias-primas defeituosas entrassem no processo de produção. A empresa pode alterar o design do material com base nas informações de desvio de qualidade visualizadas pelo sistema de IA, o que lhe permite garantir que a qualidade do lote de matérias-primas seja uniforme em um nível adequado antes de entrar no processo.

Um funcionário da LG Innotek comentou: "Com o "Sistema de inspeção baseado em IA para matérias-primas recebidas", o tempo necessário para analisar defeitos foi reduzido em até 90%, e o custo de resolver as causas dos defeitos foi significativamente reduzido"

A LG Innotek planeja aprimorar os recursos de detecção do sistema de IA compartilhando dados relacionados a matérias-primas com clientes e fornecedores no setor de substratos por meio de parcerias digitais.

Além disso, a empresa pretende expandir a aplicação do sistema para soluções ópticas, como módulos de câmera, onde a detecção baseada em imagem de defeitos de material pode desempenhar um papel crucial.

O CTO da LG Innotek, S.David Roh, disse: "Com o "sistema de inspeção baseado em IA", completaremos o ecossistema de IA exclusivo da LG Innotek, que oferece valor excepcional ao cliente, identificando as causas dos defeitos do produto no início do processo de produção" Ele acrescentou: "Continuaremos a inovar na tecnologia de produção digital para criar produtos de alta qualidade com o menor custo e no menor tempo possível"